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Produktdetails
- Autor
- Herausgegeben von David Sayre, Herausgegeben von Malcolm Howells, Herausgegeben von Janos Kirz, Herausgegeben von Harvey Rarback
X-Ray Microscopy II
- Untertitel
- Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31–September 4, 1987
- Verlag
- Springer Berlin
- ISBN/EAN
- 978-3-662-14490-9
- Preis
- 53,49 EUR
- Status
- lieferbar
