Rastertunnelmikroskopie (STM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) sind unentbehrlich für die Charakterisierung von Oberflächen. In der Vergangenheit wurden die experimentell erhaltenen Daten jedoch oftmals falsch interpretiert. Anhand konkreter Beispiele gibt dieses Buch eine fundierte Einführung in die Wechselseitige Beeinflussung von Theorie, Bildsimulation und Aufnahmebedingungen, die für eine korrekte Interpretation von experimentell erhaltenen Daten unerläßlich ist. Behandelt werden unter anderem: Anorganische SchichtstrukturenOrganische LeiterOrganische Adsorbate an Flüssig-Festen-GrenzflächenAmphiphilePolymere Ein Theoretiker und ein Praktiker haben hier ihre Expertise kombiniert - das Resultat ist ein praxisorientiertes Buch, für alle Wissenschaftler, die sich mit der Aufnahme und Interpretation STM- uns AFM-Daten beschäftigen.
